[MUSIC] El modo STEM es una técnica avanzada de microscopio de transmisión que utiliza bobinas electromagnéticas adicionales situadas en la columna de un TEM para controlar la posición del haz. Eso permite utilizar un haz de electrones muy delgado y desplazarlo secuencialmente sobre la superficie de la muestra. En este modo de operación, las imágenes que se van construyendo pixel a pixel a medida que el haz barre la muestra. Pero no con electrones secundarios como en el SEM, sino con los electrones que la han atravesado. En un TEM entendemos los electrones como ondas que al atravesar la muestra difractan e interfieren entre sí. Para dar lugar a los diagramas de difracción y a las imágenes de alta resolución. Pero la dualidad onda partícula también nos permite abordar los fenómenos de interacción entre electrón y la muestra desde una perspectiva diferente. Considerando el electrón como una partícula de carga eléctrica negativa. Las cargas positivas de los núcleos pueden cambiar la trayectoria de los electrones incidentes haciendo que en vez de seguir aproximadamente en línea recta, se desvíen a un ángulo alto. La probabilidad de que esto ocurra depende de la carga del núcleo, y por lo tanto, del número atómico. El número de electrones que sufrirán esta interacción es aproximadamente lineal con el número atómico al cuadrado. En modo STEM podemos utilizar detectores de electrones de forma anular colocados debajo de la lente objetivo para formar las imágenes con los electrones dispersados a diferentes ángulos. El detector de campo claro centrado en el eje óptico recoge los electrones que no se han desviado y nos da una imagen similar a la del campo claro en modo TEM. Con el detector angular de mayor diámetro recogeremos los electrones dispersados a alto ángulo. El contraste Z en la imagen dependerá del número atómico de los elementos presentes en la muestra. Donde tengamos elementos más pesados recogeremos más electrones y el pixel correspondiente tendrá mayor intensidad. Esta dispersión, causada por los núcleos de los átomos de la muestra, es prácticamente elástica sin pérdida de energía. Por otro lado, los electrones del haz primario pueden interaccionar con la nube electrónica de los átomos de la muestra y cederles cierta energía. Al atravesar la muestra tendremos electrones con diferentes energías en función de la energía perdida en la muestra. Este haz puede ser dispersado por un campo magnético de forma análoga a como un haz de luz blanca puede ser separado en colores por un cristal. De esta manera, podemos detectar el número de electrones que han perdido una determinada energía. La espectroescopía de pérdida de energía de los electrones nos dará información sobre la naturaleza de los átomos presentes en la muestra y como están enlazados. Según el control del haz sobre la muestra, podemos obtener un espéctro IS en un único punto. Adquirir un aspecto en cada pixel a lo largo de una línea. O bien si barremos una determinada región de interés, construir la llamada imagen de espectros. En la que cada píxel contiene el espectro de pérdida de energía de los electrones en ese punto de la muestra. Analizando adecuadamente la información contenida en los espectros podemos cuantificar la composición química del material. Los estados de oxidación de los elementos y otras propiedades de la muestra. La observación en modo HADF nos permite hacer una reconstrucción tomográfica de la muestra obteniendo su forma tridimensional. Para ello, iremos girando la muestra y tomando imágenes a diversos ángulos. A partir de estas imágenes se puede reconstruir la forma del objeto. [MUSIC]