[MUSIC] El microscopio de fuerzas atómicas es una herramienta que nos permite generar imágenes superficiales de las muestras con resolución nanométrica. Tiene aplicaciones en el mundo de la ciencia de materiales y de la biología al poder analizar las muestras tanto en aire como en líquido. Su particularidad principal es que, aun que es un microscopio, no funciona ni con un haz de luz ni con un haz de electrones, sino palpando la muestra, como si fuese un nanotocadiscos. El AFM se compone de los siguientes elementos básicos. Escaner para el movimiento de la muestra, sonda del AFM, láser, fotodetector y sistema óptico, sistema de retroalimentación electrónico y ordenador con software de control. La sonda del AFM es una palanca microfabricada acabada en una punta muy fina, con un radio final de pocos nanómetros. Esta punta es la que reseguirá la superficie de la muestra y podrá resolver su forma con resolución nanométrica. El escaner se encarga de mover la muestra para que la sonda pueda palpar toda la superficie requerida. La deflexión de la palanca se sigue mediante un láser que incide sobre ella y va a rebotar a un fotodetector. De esta manera las diferencias de altura de la muestra se convierten en deflexiones verticales de la palanca. Los mapas obtenidos se analizan mediante software para obtener la información de las diferencias de altura en la muestra. El tamaño de las diferentes estructuras que se visualicen y la textura superficial. En el modo de contacto la sonda está en contacto permanente con la muestra. La deflexión de la palanca se mantiene constante durante todo el escaneado y es el piezoeléctrico el encargado de responder a la topografía de la muestra. En el modo de contacto intermitente la sonda de AFM vibra describiendo un movimiento ondulatorio de una determinada amplitud. La amplitud de la vibración disminuye dependiendo de la distancia entre punta y muestra. Y se utiliza este parámetro para reseguir su topografía de manera intermitente. La preparación de muestra suele ser mínima. Simplemente la pegamos sobre un disco metálico para introducirla en el portamuestras del AFM. En caso de querer observar material que se encuentre en polvo o bien dispersado en líquido. Es necesario primeramente depositarlo sobre una superficie atómicamente plana, como puede ser la mica o el grafito. La preparación de estos sustratos se realiza por exfoliación con cinta adhesiva, gracias a estar formados por multitud de capas. Una vez se tiene lista la muestra se coloca sobre el escáner que realizará el barrido. La sonda de AFM se monta en el portasondas que irá situado sobre la muestra. El microscopio óptico nos ofrece una visión desde arriba del conjunto punta muestra que nos permite ajustar el láser sobre la sonda. El láser rebota sobre la palanca e incide sobre el fotodetector, que debe ajustarse para que el haz lo contacte en su región central. Aproximamos la sonda a la muestra mediante un motor para que el contacto final se realice de manera automática, seleccionando el área de escaneado y la velocidad de barrido. Una vez adquirida la imagen línea a línea, el software nos permite obtener información muy precisa a nivel metrológico. Es decir, diferencias de alturas, perfiles de la imagen, distancias entre puntos y parámetros de rugosidad de la muestra entre otros. Hay que recordar que los colores de las imágenes no son verdaderos porque no es un microscopio que funcione con luz. Lo que hacemos es relacionar una escala de colores con las diferentes alturas de la superficie de la muestra. Representando el relieve como si se tratara de un mapa topográfico de los que usamos cuando vamos a la montaña. Finalmente las imágenes capturadas pueden visualizarse tanto en dos como en tres dimensiones. [MUSIC]