[MUSIC] La microscopía óptica data del siglo dieciséis. Desde los primeros microscopios hasta los actuales ha conocido muchas configuraciones, perfecionándose hasta permitir en nuestros tiempos una gran variedad de aplicaciones. Aunque puede considerarse que todavía está en desarrollo, actualmente lo conocemos como microscopía óptica avanzada o microscopía óptica en la nanoescala. Las técnicas ópticas son una herramienta muy importante tanto en ingeniería como en la medición del acabado de la superficie, la forma y la textura de los materiales. Los usuarios de estas técnicas buscan rapidez de medida, alta resolución, reproducibilidad y preferentemente que sean técnicas de no contacto, no invasivas y no destructivas. Esta indicado para una amplia gama de aplicaciones en las que se requieren elevadas velocidades y resoluciones de hasta 0.1 nanómetros en altura. Como por ejemplo las mediciones en laboratorios de investigación y desarrollo o el análisis de calidad. Así como los controles de procesos realizados en línea de forma automatizada. Una de las principales técnicas es la microscopía confocal, que permite la medición de la altura de las superficies para una amplia gama de texturas. Desde superficies muy rugosas a muy suaves. Esto se consigue mediante el escaneo de la muestra verticalmente en varios pasos, de manera que cada punto de la superficie pasa a través del foco. El microscopio se compone de un microdisplay digital sincronizado con la cámara CCD, una ruta óptica, el revólver con sus objetivos y la electrónica conectada al ordenador de control. Todo ello dispuesto sobre un sistema antivibratorio y una mesa motorizada en los ejes X e Y. Por su parte, la ruta óptica se compone del camino óptico con su sistema de espejos, las cámaras CCD, fuentes de luz LED, un pinhole, un microdisplay y el espejo de referencia. Para medir la superficie se ilumina a través de un pinhole mediante una fuente de luz LED y la luz reflejada resultante se dirige gracias a un separador de haces a través del objetivo. A su vez, esta luz reflejada se dirige también a través de la lente a un segundo pinhole colocado delante de un detector que actúa como un filtro espacial. Los objetivos nos permiten seleccionar la superficie que queremos medir de la muestra. La elección del objetivo determinará el área escaneada de manera que a mayor magnificación, menor área medida y mayor resolución vertical y lateral. Colocamos la muestra sobre una plataforma, la cual está situada sobre una mesa antivibratoria que a su vez está motorizada. La muestra queda situada justo debajo de la lente objetivo seleccionada. A una distancia de trabajo determinada en función de la lente objetivo que seleccionaremos moviendo el revólver que los sujeta. También podemos seleccionar dos leds diferentes de trabajo: blanco centrado en 530 nanómetros o azul en 460 nanómetros. Para obtener una imagen de la muestra, buscamos automáticamente el plano focal en campo claro. Pasamos a imagen confocal y seleccionamos con el joystick la distancia vertical de escaneo. Volvemos a la zona inicial del plano focal y seleccionamos la imagen confocal e intensidad de luz automática más adecuada. Vamos a plano medio y adquirimos la imagen esperando unos segundos para la obtención del análisis. Una imagen tridimensional de la superficie escaneada. [MUSIC]